Применение Сканирующей Емкостной Силовой Микроскопии Для Выявления Примесных Фаз В Сегнетоэлектрике Триглицинсульфат
Журнал технической физики
doi 10.21883/jtf.2019.11.48330.119-19
Full Text
Open PDFAbstract
Available in full text
Date
January 1, 2019
Authors
Publisher
Ioffe Institute Russian Academy of Sciences