Возможности Двухфотонной Конфокальной Микроскопии Для Исследования Объемных Характеристик Полупроводниковых Материалов

Журнал технической физики
doi 10.21883/jtf.2016.12.43925.1702
Full Text
Abstract

Available in full text

Date
Authors
Publisher

Ioffe Institute Russian Academy of Sciences

Related search

Кто Продолжает Участвовать Во Втором Этапе Исследования? Роль Личностных Характеристик

Psychology, Journal of the Higher School of Economics
EducationCultural StudiesPsychology
2017English

Кремний-Ниобиевые Блоки Для Конструирования Наноструктурированных Материалов

Конденсированные среды и межфазные границы
2018English

Бази Кліматології Для Визначення Енергетичних Характеристик Будівель

POWER ENGINEERING: economics, technique, ecology
2017English

Применение Электростатической Силовой Микроскопии Для Оценки Проводимости Индивидуальных Многостенных Углеродных Нанотрубок

Журнал технической физики
2017English

Базарова В.А. Современные Возможности Трасологического Исследования Механических Повреждений На Одежде В России.

Юридические исследования
2019English

Применение Сетей Доказательств Для Исследования Фрагментов Исчисления Ламбека

Izvestiya Rossiiskoi Akademii Nauk. Seriya Matematicheskaya
2011English

Блокчейн Для Науки: Революционные Возможности, Перспективы Внедрения, Потенциальные Проблемы

Monitoring Obshchestvennogo Mneniya: Ekonomichekie i Sotsial'nye Peremeny
EconomicsSociologyEconometricsPolitical ScienceFinance
2019English

Возможности Кооперации С Германией Для Укрепления Миграционной Безопасности Рф

Scientific and Analytical Herald of IE RAS
2018English

Лазерное Структурирование Ансамбля Углеродных Нанотрубок Для Создания Биосовместимых Упорядоченных Композиционных Материалов

Конденсированные среды и межфазные границы
2017English

Amanote Research

Note-taking for researchers

Follow Amanote

© 2024 Amaplex Software S.P.R.L. All rights reserved.

Privacy PolicyRefund Policy