Релаксация Напряжений В Кристаллах CrSi-=SUB=-2-=/SUB=-, Выращенных В Условиях Невесомости Из Расплава Zn Системы Cr-Si-Zn
Журнал технической физики
doi 10.21883/pjtf.2019.13.47960.17765
Full Text
Open PDFAbstract
Available in full text
Date
January 1, 2019
Authors
Publisher
Ioffe Institute Russian Academy of Sciences