Релаксация Напряжений В Кристаллах CrSi-=SUB=-2-=/SUB=-, Выращенных В Условиях Невесомости Из Расплава Zn Системы Cr-Si-Zn

Журнал технической физики
doi 10.21883/pjtf.2019.13.47960.17765
Full Text
Abstract

Available in full text

Date
Authors
Publisher

Ioffe Institute Russian Academy of Sciences