Критерий Сильной Локализации На Поверхности Полупроводника В Приближении Томаса-Ферми
Журнал технической физики
doi 10.21883/ftp.2017.10.45015.8507
Full Text
Open PDFAbstract
Available in full text
Date
January 1, 2017
Authors
Publisher
Ioffe Institute Russian Academy of Sciences