Ni-Ti Akıllı Alaşım İnce Filmin Sıcaklığa Bağlı X-Ray Kırınımı Ile Karakterizasyonu Ve Faz Dönüşümü Tespiti
Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi
doi 10.35193/bseufbd.549878
Full Text
Open PDFAbstract
Available in full text
Date
September 2, 2019
Authors
Publisher
Bilecik Seyh Edebali Universitesi Fen Bilimleri Dergisi