Ni-Ti Akıllı Alaşım İnce Filmin Sıcaklığa Bağlı X-Ray Kırınımı Ile Karakterizasyonu Ve Faz Dönüşümü Tespiti

Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi
doi 10.35193/bseufbd.549878
Full Text
Abstract

Available in full text

Date
Authors
Publisher

Bilecik Seyh Edebali Universitesi Fen Bilimleri Dergisi


Related search