Сравнительный Анализ Толщины И Электрической Проводимости Тонких Халькогенидных Полупроводниковых Пленок

Журнал технической физики
doi 10.21883/ftt.2017.01.43970.174
Full Text
Abstract

Available in full text

Date
Authors
Publisher

Ioffe Institute Russian Academy of Sciences

Related search

Оптические Свойства И Критические Точки Наноструктурированных Тонких Пленок PbSe

Журнал технической физики
2020English

О Влиянии Гетерограниц И Толщины На Кинетику Кристаллизации Пленок Аморфного Германия

Журнал технической физики
2020English

Суициды И Смертность От Прочих Отравлений: Сравнительный Анализ Трендов

Сибирский вестник психиатрии и наркологии
2019English

Сравнительный Анализ Воспалительных Маркеров При Эндогенных И Непсихотических Психических Расстройствах

Сибирский вестник психиатрии и наркологии
2018English

Сравнительный Анализ Классификации Юридических Лиц России И Соединенных Штатов Америки

2018English

Агрба А.А. Механизмы Создания И Воздействия Социальной Рекламы В Современной России И Испании: Сравнительный Анализ

Культура и искусство
2018English

Мессбауэровский Метод Измерения Субангстремных Смещений Тонких Пленок

ПИСЬМА В ЖУРНАЛ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ И ТЕОРЕТИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ
2018English

Излучательная Эффективность Терагерцовых Антенн С Традиционной Топологией И Металлической Метаповерхностью: Сравнительный Анализ

Журнал технической физики
2020English

Структура И Электрические Свойства Тонких Пленок (ZnO/SiO-=SUB=-2-=/SUB=-)-=SUB=-25-=/SUB=-

Журнал технической физики
2019English

Amanote Research

Note-taking for researchers

Follow Amanote

© 2024 Amaplex Software S.P.R.L. All rights reserved.

Privacy PolicyRefund Policy