Мессбауэровский Метод Измерения Субангстремных Смещений Тонких Пленок

ПИСЬМА В ЖУРНАЛ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ И ТЕОРЕТИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ
doi 10.1134/s0370274x18230108
Full Text
Abstract

Available in full text

Date
Authors
Publisher

Pleiades Publishing Ltd

Related search

Диэлектрическая Спектроскопия Как Метод Исследования Тонких Пленок Диоксида Ванадия

Журнал технической физики
2019English

Влияние Условий Кристаллизации На Спектральные Характеристики Тонких Пленок Тетрафенилпорфирина

Журнал технической физики
2019English

Оптические Свойства И Критические Точки Наноструктурированных Тонких Пленок PbSe

Журнал технической физики
2020English

Сравнительный Анализ Толщины И Электрической Проводимости Тонких Халькогенидных Полупроводниковых Пленок

Журнал технической физики
2017English

Получение Тонких Пленок Графита На Диэлектрической Подложке С Помощью Гетероэпитаксиального Синтеза

Журнал технической физики
2020English

Структура И Электрические Свойства Тонких Пленок (ZnO/SiO-=SUB=-2-=/SUB=-)-=SUB=-25-=/SUB=-

Журнал технической физики
2019English

Изменение Элементного Состава Тонких Пленок Цирконата-Титаната Свинца В Процессе Ионно-Плазменного Осаждения: Эксперимент И Моделирование

Журнал технической физики
2019English

Образование Тонких Пленок И Малоразмерных Монокристаллов Из Газовой Фазы На Поверхностях Ионных Кристаллов В Условиях Нагрева И Электрического Поля

Журнал технической физики
2019English

Микроструктура И Комбинационное Рассеяние Света Тонких Пленок Cu-=sub=-2-=/SUB=-ZnSnSe-=SUB=-4-=/Sub=-, Осажденных На Гибкие Металлические Подложки

Журнал технической физики
2018English

Amanote Research

Note-taking for researchers

Follow Amanote

© 2024 Amaplex Software S.P.R.L. All rights reserved.

Privacy PolicyRefund Policy