(PDF) Диэлектрическая Спектроскопия Как Метод Исследования

Диэлектрическая Спектроскопия Как Метод Исследования Тонких Пленок Диоксида Ванадия

Журнал технической физики

doi 10.21883/jtf.2019.12.48487.189-19

Full Text

Abstract

Available in full text

Date

January 1, 2019

Authors

А.В. Ильинский

Р.А. Кастро

М.Э. Пашкевич

Е.Б. Шадрин

Publisher

Ioffe Institute Russian Academy of Sciences

Related search

Мессбауэровский Метод Измерения Субангстремных Смещений Тонких Пленок

ПИСЬМА В ЖУРНАЛ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ И ТЕОРЕТИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ

English

Загадка Как Объект Лингвистического Исследования

Slovo.ru: Baltic accent

English

Влияние Условий Кристаллизации На Спектральные Характеристики Тонких Пленок Тетрафенилпорфирина

Журнал технической физики

English

Оптические Свойства И Критические Точки Наноструктурированных Тонких Пленок PbSe

Журнал технической физики

English

Сравнительный Анализ Толщины И Электрической Проводимости Тонких Халькогенидных Полупроводниковых Пленок

Журнал технической физики

English

Получение Тонких Пленок Графита На Диэлектрической Подложке С Помощью Гетероэпитаксиального Синтеза

Журнал технической физики

English

Влияние Режимов Работы На Отклик Сенсоров Аммиака На Основе Пленок Диоксида Олова

Журнал технической физики

English

Песочная Терапия Как Метод Коррекции Эмоциональных Нарушений У Дошкольников

Sovremennye issledovaniya sotsialnykh problem

English

Арендное Жилье Как Объект Исследования: Дифференциация Авторов И Эволюция Проблематики

Russian Journal of Entrepreneurship

English